인풋 샤프트의 360도 전방위 검사를 통해 이물, 찍힘, 칩말림, 미가공, 오염 등의 불량을 500μm 크기까지 정밀하게 검출합니다. 원형 검사체의 굴곡 및 높낮이 단차에도 정확한 초점 촬상이 가능하도록 설계된 광학 시스템을 사용하며, 촬상 각도에 따른 불량 형상의 다양성 및 시료 간 색상 편차, 유분량 차이로 인한 과검 및 미검 문제를 데이터 증강(Data augmentation) 기법을 통해 효과적으로 예방합니다. 30초의 Tact time으로 대량 생산 라인에 적합한 빠르고 신뢰성 높은 검사를 제공합니다.